WEKO3
アイテム
電子カメラによるスペックル相関画像計測
https://doi.org/10.57375/00000925
https://doi.org/10.57375/000009257189e911-e185-45a0-8d49-3eeccbb5c9b2
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00000201947.pdf (468.9 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2009-04-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 電子カメラによるスペックル相関画像計測 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Speckle Correlation Interferometry by Electronic Camera | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.57375/00000925 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
松本, 和也
× 松本, 和也× 佐々木, 康雄× 南條, 基× Matsumoto, Kazuya× Sasaki, Yasuo× Nanjo, Motoi |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Scattered laser light from a rough surface forms speckle patterns due to random interferences of the light from randomly oriented surface elements. Electronic speckle pattern interferometry (ESPI) is a measurement tool to analyze deformations or displacements without giving any disturbances to the objects. This report gives a brief review of ESPI and some experimental data, processing of the patterns, and their analises regarding the speckle patterns taken by an electonic CCD camera. | |||||
| 書誌情報 |
福井工業大学研究紀要. 第二部 号 30, p. 63-69, 発行日 2000-03-20 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 福井工業大学 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2868571 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||
| 関連識別子 | TF00009384 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
