WEKO3
アイテム
光散乱トモグラフィによる単結晶の欠陥評価
https://doi.org/10.57375/00000570
https://doi.org/10.57375/00000570897c0496-470b-4d52-8f84-9d3e6fbe7f19
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00004766940.pdf (2.6 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2009-04-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 光散乱トモグラフィによる単結晶の欠陥評価 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | EVALUATION OF DEFECTS IN SINGLE CRYSTAL BY THE LIGHT SCATTERING TOMOGRAPHY | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.57375/00000570 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
龍見, 雅美
× 龍見, 雅美× 高村, 涼介× 高氏, 信吾× 高田, 慎一× Tatsumi, Masami× Takamura, Ryousuke× Takauji, Shingo× Takada, Shinichi |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Defects in several compound semiconducting single crystals are evaluated by using the light scattering tomography. The dislocations in ZnSe and ZnO single crystals are observed by decorating them with precipitate, which were generated by heat treatment. We obtain three dimensional views of linear and curved dislocations in ZnSe crystals. Linear dislocations are detected for the first time by several annealing. Micropipes along growth direction are also found by this method. | |||||
| 書誌情報 |
福井工業大学研究紀要. 第一部 号 37, p. 25-32, 発行日 2007-05-31 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 福井工業大学 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2868571 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||
| 関連識別子 | TF00009029 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
