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  1. 福井工業大学研究紀要

プラズマ中の活性粒子を用いたTiO_2スパッタ膜の形成(II)

https://doi.org/10.57375/00000246
https://doi.org/10.57375/00000246
65b6111d-5b92-41d0-b6a1-f520e6f0afdc
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00004259139.pdf KJ00004259139.pdf (539.9 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2009-04-04
タイトル
タイトル プラズマ中の活性粒子を用いたTiO_2スパッタ膜の形成(II)
タイトル
タイトル TIO_2 Sputtered Film Growth using Active particles in Plasma (II)
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.57375/00000246
ID登録タイプ JaLC
著者 柴田, 明

× 柴田, 明

WEKO 9318

柴田, 明

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Shibata, Akira

× Shibata, Akira

WEKO 9319

en Shibata, Akira

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 In this paper we propose a simple method to ionize sputtered Ti and added oxygen gas by introducing He gas in reactive sputtering. Rutile (110) rich TiO_2 films were prepared at a low temperature by using this method. The optimum gas pressure ratio providing the richest rutile composition to deposited film was He: O_2: Ar=1: 0.42: 2.39 for a total gas pressure of 0.27 Pa. The rutile (110) phase was grown by the reaction between sputtered Ti and active oxygen species O_2^+, O^*. The former is generated by the penning ionization of oxygen molecules by He^*. The latter is produced from the decomposition process of O_2^+. This film indicated the greatest crystalline size and the highest refractive index. Furthermore, the film consists of the uniform crystalline sizes of 20~30 nm.
書誌情報 福井工業大学研究紀要. 第一部

号 34, p. 267-274, 発行日 2004-03-20
出版者
出版者 福井工業大学
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2868571
書誌レコードID
識別子タイプ NCID
関連識別子 TF00008705
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-06-20 14:36:28.247362
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