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  1. 福井工業大学研究紀要

マスクした試料のミスセッティングによるX線応力測定誤差

https://doi.org/10.57375/00000223
https://doi.org/10.57375/00000223
6273e86f-09e4-4587-a07c-d46de073be10
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00004259111.pdf KJ00004259111.pdf (493.3 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2009-04-04
タイトル
タイトル マスクした試料のミスセッティングによるX線応力測定誤差
タイトル
タイトル Effect of Specimen Mis-setting to X-ray Stress Measurement of Masked Specimen
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.57375/00000223
ID登録タイプ JaLC
著者 後藤, 徹

× 後藤, 徹

WEKO 9236

後藤, 徹

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GOTO, Toru

× GOTO, Toru

WEKO 9237

en GOTO, Toru

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Recently, the position sensitive detector (PSD) has been popular as a detector of X-ray stress measurement. However, little information is available on the effect of specimen mis-setting to the stress error for X-ray stress measurement using PSD. Therefore, the authors have developed a model and a simulation method of X-ray stress measurement to study the effect of specimen mis-setting. In this paper, the simulation of X-ray stress measurement for the specimen masked by a vinyl tape except the X-ray exposure area is conducted and the stress error caused by specimen mis-setting is discussed. It was concluded that the masking has a tendency to increase the stress error.
書誌情報 福井工業大学研究紀要. 第一部

号 34, p. 61-68, 発行日 2004-03-20
出版者
出版者 福井工業大学
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2868571
書誌レコードID
識別子タイプ NCID
関連識別子 TF00008682
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-06-20 14:36:57.899260
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