WEKO3
アイテム
マスクした試料のミスセッティングによるX線応力測定誤差
https://doi.org/10.57375/00000223
https://doi.org/10.57375/000002236273e86f-09e4-4587-a07c-d46de073be10
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00004259111.pdf (493.3 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2009-04-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | マスクした試料のミスセッティングによるX線応力測定誤差 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Effect of Specimen Mis-setting to X-ray Stress Measurement of Masked Specimen | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.57375/00000223 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
後藤, 徹
× 後藤, 徹× GOTO, Toru |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Recently, the position sensitive detector (PSD) has been popular as a detector of X-ray stress measurement. However, little information is available on the effect of specimen mis-setting to the stress error for X-ray stress measurement using PSD. Therefore, the authors have developed a model and a simulation method of X-ray stress measurement to study the effect of specimen mis-setting. In this paper, the simulation of X-ray stress measurement for the specimen masked by a vinyl tape except the X-ray exposure area is conducted and the stress error caused by specimen mis-setting is discussed. It was concluded that the masking has a tendency to increase the stress error. | |||||
| 書誌情報 |
福井工業大学研究紀要. 第一部 号 34, p. 61-68, 発行日 2004-03-20 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 福井工業大学 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2868571 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||
| 関連識別子 | TF00008682 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
