WEKO3
アイテム
半導体レーザの共振器端面と信頼性
https://doi.org/10.57375/00000309
https://doi.org/10.57375/00000309cac1a260-78bc-45e2-a684-72d14e90eb4c
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00004179127.pdf (561.6 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2009-04-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 半導体レーザの共振器端面と信頼性 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Resonator Facets and Reliability in Semiconductor Lasers | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.57375/00000309 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
權田, 俊一
× 權田, 俊一× Gonda, Shunichi |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | The relation between facets and reliability in Fabry-Perot semiconductor lasers is discussed. Surface roconbination centers play important roles in catastrophic optical damage (COD), life problems, electrostatic-discharge-induced degradation. The COD ouurrence level is low in Al-containing materials and high in In-containing materials, compared with GaAs. This is due to the bonding strength of Al with oxygen. Removal of oxygen and defects in the facets and deposition of protective thin films are an effectiv method for the improvement of reliability. Reliability issues of semiconductor lasers in the hard environments such as in the universe are the next problem. | |||||
| 書誌情報 |
福井工業大学研究紀要. 第一部 号 35, p. 295-302, 発行日 2005-03-18 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 福井工業大学 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2868571 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 識別子タイプ | NCID | |||||
| 関連識別子 | TF00008768 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
